6 质量控制中的常用缩略语和符号(OEE)以及解释

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于 2025-05-28 18:12:08 首次发布

一、常用缩略语和符号以及解释

Cm	设备能力指数（machine capability index)
Cmk	关键设备能力指数(critical machine capability index)；计算公式见2.2
Cp	工序能力指数(process capability index)
Cpk	关键工序能力指数(critical process capability index)；计算公式见2.3
USL	规格上限(upper specification limit)
LSL	规格下限(lower specification limit)
OEE	设备综合效率指标(Overrall equipment effectiveness index) OEE = 可用率 x 设备性能效率 x 质量指数 = 实际合格品数量 / 计划产量见2.1