Présentation banc_ test
Télécharger en tant que PPT, PDF2 j'aime4,958 vues
Le document présente les moyens de test fonctionnel en électronique, incluant le test structurel pour vérifier chaque étape de la fabrication d'une carte ou d'un système. Il aborde également les méthodes de test, comme le test in-situ et le test fonctionnel, qui visent à identifier des défauts sans diagnostiquer ou corriger les erreurs. Enfin, il évoque l'importance des outils de test et des systèmes de commutation pour l'interfaçage des tests.
Présentation banc_ test
- 1. Présentation Banc de Test MAHOUACHI Mohamed [email protected] 1 BD-MR-ENR-01
- 2. Présentation Les moyens de test fonctionnel Le test Fonctionnel sur la ligne d’assemblage Test Composant Test Carte équipée (Cluster, carte) Le test Fonctionnel Produit Architectures/solutions d’un testeur Systèmes de commutations, interfaçage Les solutions commerciales « génériques » 2
- 3. Tous les moyens de test fonctionnel 3
- 4. les moyens de test fonctionnel En électronique, un test structurel est un test conçu pour vérifier chaque étape du procédé de fabrication d’une carte ou d’un système électronique. Il existe plusieurs méthodes de test structurel : Le test in-situ est en fait un Test Fonctionnel de chaque composant et de clusters d’une carte équipée. Test Fonctionnel désigne une procédure de vérification partielle ou totale d'un système électronique (boite noire). 4
- 5. les moyens de test fonctionnel Le Test Fonctionnel vise à mettre en évidence des défauts de l'objet testé. Cependant il n'a pas pour objectif : de diagnostiquer la cause des erreurs, de les corriger, de prouver la correction de l'objet testé. 5
- 6. Industries Adressées la cartes 6
- 8. Le Test In Situ et Lit à Clous 8
- 9. Le Test In Situ et Lit à Clous 9
- 10. Le Test In Situ et Lit à Clous 10
- 11. Boundary Scan 11
- 12. Outils de test 12
- 13. Outils de test 13
- 14. Outils de test 14
- 15. Choix du type d’interface de test 15
- 16. Systèmes de commutations, interfaçage 16
- 17. Systèmes de commutations, interfaçage 17
- 18. Systèmes de commutations, interfaçage 18
- 19. Systèmes de commutations, interfaçage 19
- 20. Testeur Fonctionnel : Maintenance 20
- 21. Référence du secteur 21
- 22. 22
Notes de l'éditeur
- #8: Agilent, takaya etc …
- #12: Boundary scan description language (BSDL) La technique de Boundary-Scan est conçue pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques numériques. Elle consiste à donner un accès auxiliaire aux broches d'entrée-sortie des composants numériques fortement intégrés. Initialement, le Boundary Scan était uniquement destiné au test des court-circuits et de la continuité entre puces compatibles. Connaissant le schéma électrique de la carte électronique , on applique un ensemble de signaux logiques (appelé vecteur de test) sur les broches d'entrée de certains composants (depuis la chaîne Boundary Scan interne), et on relève les niveaux logiques sur les broches de sortie des composants qui y sont connectés, pour s'assurer qu'ils correspondent aux valeurs attendues.
- #15: CVI LABWINDOWS, LABVIEW